天瑞Skyray EDX3000PLUS X熒光貴金屬檢測儀

天瑞Skyray EDX3000PLUS X熒光貴金屬檢測儀

產品說明、技術參數及配置

天瑞新型X熒光貴金屬檢測儀 EDX 3000 PLUS 在測量金、銀、鉑、鈀等貴金屬含量上功能獨到。采用25mm2大面積探測器，可準確無誤地分析出黃金，鉑金和K金飾品中金、銀、鉑、鈀、銅、鋅、鎳的含量，測試結果符合國標GB/T 18043-2000要求。

黃金貴重，儀器貴精。EDX 3000 PLUS閃耀的亮點在于高準確度、高分辨率、更清晰的攝像頭、一鍵式智能操作，一切讓貴金屬檢測如此簡單！

性能優勢

高分辨率：

采用FAST-SDD探測器 ，分辨率可達125ev ， 能更好的檢測鉑金中銥和金的含量。

高準確度，性能優：

使用25mm2大面積探測器，大大提高樣品特征X熒光的接收能力。配合數字多道分析器技術，提高分析速度，總體提高系統處理能力，計數率大可達8萬，比Si-PIN 6mm2探頭提高了5-10倍,精度提高了2-4倍。

清晰攝像頭，準確定位：

采用新型工業級相機，樣品圖像更加清晰，輕松實現精準定位。

小準直器，輕松實現精小部位測試：

提供多種準直器，直徑小達0.2mm，可輕松實現精小部位的準確測試，同時可根據測試需求電動切換準直器，使測量更加輕松更加準確。

一鍵式智能式操作，省去選曲線煩惱：

FP法的完整使用，只需一鍵操作即可智能化自動匹配曲線，操作一步到位。

儀器配置

移動樣品平臺

FAST-SDD探測器

數字多道分析系統

高低壓電源

大功率X光管

計算機及噴墨打印機

外觀尺寸： 550×416×333mm

樣品腔尺寸：460×298×98mm

質量：45Kg

天瑞EDX3000PLUS X熒光貴金屬檢測儀應用領域

黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測

天瑞Skyray EDX3000PLUS X熒光貴金屬檢測儀